Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders)

Building Filters

162

Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000A

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • Fabrikant: Rudolph

    Wafelgrootte: 8" | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2006 KLA CI T1X0

    2006 KLA CI T1X0

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 1990 KLA SFS7200

    1990 KLA SFS7200

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: SFS7200

    Fase: 8" | Proces: Metrologie | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: IS-3200SE

    Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • JORDANVALLEY JVX6200

    JORDANVALLEY JVX6200

    • Fabrikant: JORDANVALLEY

    Wafelgrootte: 12"

    Zuid-Korea
  • 1996 BROOKS METARA 7200

    1996 BROOKS METARA 7200

    • Fabrikant: Brooks

    Wafelgrootte: 8" | Proces: OVERAAN | Verzending: EXW

    Cheonan-si, Zuid-Korea
  • HSEB AXIOTRON 300

    HSEB AXIOTRON 300

    • Fabrikant: HSEB

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2013 ATI OAK-1

    2013 ATI OAK-1

    • Fabrikant: ATI

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    • Fabrikant: Nanometrics

    Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH S3000

    RUDOLPH S3000

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000A

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

    Zuid-Korea
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000A

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

    Zuid-Korea
  • FEI FEM2010F

    FEI FEM2010F

    • Fabrikant: FEI
    • Model: FEM2010F

    Details: Dubbele straal | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: FEI FEM2010F Dubbele bundel

    Zuid-Korea
  • 2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • Fabrikant: Nanometrics
    • Model: CALIPERMOSAIC

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Overlay | Verzending: EXW`

    Zuid-Korea
678910

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.