Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders)

Building Filters

161

Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

  • 2003 RUDOLPH MP200

    2003 RUDOLPH MP200

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: MP200

    Wafelgrootte: 8

    Zuid-Korea
  • 2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    • Fabrikant: J.A.WOOLLAM

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: ELLIPSOMETER | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2000 RUDOLPH MP200

    2000 RUDOLPH MP200

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: MP200

    Zuid-Korea
  • 1998 RODOLPH Meta Pulse 200

    1998 RODOLPH Meta Pulse 200

    • Fabrikant: RODOLPH

    Wafelgrootte: 8 | 3 wafelformaat: 8 " | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

    2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Fabrikant: Rudolph

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting

    Zuid-Korea
  • KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

    KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

    • Fabrikant: KLA_TENCOR

    Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH Meta Pulse 200

    RUDOLPH Meta Pulse 200

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: LAAGDIKTEMETING | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Fabrikant: Rudolph

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • JORDANVALLEY JVX6200

    JORDANVALLEY JVX6200

    • Fabrikant: JORDANVALLEY

    Wafelgrootte: 12"

    Zuid-Korea
  • 2013 ATI OAK-1

    2013 ATI OAK-1

    • Fabrikant: ATI

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    NANOMETRICS CALPER-ULTRA

    • Fabrikant: Nanometrics

    Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH S3000

    RUDOLPH S3000

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2011 RUDOLPH S3000A

    2011 RUDOLPH S3000A

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000A

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

    Zuid-Korea
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000A

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

    Zuid-Korea
7891011

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.