Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders)

Building Filters

161

Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- Fabrikant: J.A.WOOLLAM
Wafelgrootte: 8 " | Proces: ELLIPSOMETER | Verzending: EXW
Zuid-Korea
JEOL JWS-7515
- Fabrikant: Jeol
- Model: JWS-7515
Details: Wafer inspectie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JWS-7515 Wafer-inspectie
Zuid-Korea
2006 HITACHI IS2700E
- Fabrikant: Hitachi
- Model: IS-2700SE
Wafelgrootte: 12" | Details: Inspectie met elektronenbundel | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: HITACHI IS2700SE E-straalinspectie
Zuid-Korea
2006 Micro-Vu Vertex 420
- Fabrikant: Micro-Vu
Wafelgrootte: N/A | Verzending: EXW
Zuid-Korea
Hitachi S4700II
- Fabrikant: Hitachi
- Model: S-4700
Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW
Zuid-Korea
2011 RUDOLPH S3000A
- Fabrikant: Rudolph
- Model: S3000A
Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie
Zuid-Korea
2011 RUDOLPH S3000A
- Fabrikant: Rudolph
- Model: S3000A
Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie
Zuid-Korea
RUDOLPH S3000A
- Fabrikant: Rudolph
- Model: S3000A
Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie
Zuid-Korea
RUDOLPH S3000A
- Fabrikant: Rudolph
- Model: S3000A
Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW
Zuid-Korea
ONTO WV320
- Fabrikant: Onto
Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW
Zuid-Korea
2010 RUDOLPH WS3840
- Fabrikant: Rudolph
- Model: WS3840
Wafelgrootte: 12" | Proces: 3D stootmetrologie | Verzending: EXW`
Zuid-Korea
PUDOLPH Meta Pluse3
- Fabrikant: PUDOLPH
Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW
Zuid-Korea
HITACHI S4700-II
- Fabrikant: Hitachi
- Model: S-4700
Wafelgrootte: 12" | Proces: FESEM met Horriba EMAX EDX | Verzending: EXW
Zuid-Korea
2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Fabrikant: Nanometrics
Wafelgrootte: 12" | Proces: OVERLAY | Verzending: EXW
Zuid-Korea
2003 HITACHI RS 4000
- Fabrikant: Hitachi
- Model: RS-4000
Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW
Zuid-Korea

Meer resultaten weergeven

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.