Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

HITACHI S4700-II

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S 4700

Wafelgrootte: 12" | Proces: FESEM met Horriba EMAX EDX | Verzending: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• gebruikte

• Fabrikant: PUDOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: OVERLAY | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS 4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: Masker- en waferinspectie | Verzending: EXW

1999 NEC NEC SL-473F

• gebruikte

• Fabrikant: NEC
• Model: SL-473F

Proces: SI WAFER MARKER | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS4000

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS 4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• gebruikte

• Fabrikant: Thermo Fisher Scientific
• Model: ECO 1000

Proces: FTIR-SYSTEEM | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: METAAL THK METING | Verzending: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• gebruikte

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200