Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

ONTO WV320

• Fabrikant: Onto

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

2010 RUDOLPH WS3840

• Fabrikant: Rudolph
• Model: WS3840

Wafelgrootte: 12" | Proces: 3D stootmetrologie | Verzending: EXW`

HITACHI S4700-II

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4700

Wafelgrootte: 12" | Proces: FESEM met Horriba EMAX EDX | Verzending: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• Fabrikant: PUDOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: OVERLAY | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS-4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS-4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• Fabrikant: Thermo Fisher Scientific
• Model: ECO 1000

Proces: FTIR-SYSTEEM | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 8 | 3 wafelformaat: 8 " | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: LAAGDIKTEMETING | Verzending: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Fabrikant: Kobelco
• Model: SBW-330

Details: Wafer testen en metrologie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: SBW-330 Testen en metrologie van wafers

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Fabrikant: LG SEMICON

Proces: 3e OPTISCHE INSPECTIE | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW