Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

JEOL JWS-7500E

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7500E

Wafelgrootte: 8 " | Proces: WAFER INSPECTIESYSTEEM | Verzending: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4160

Wafelgrootte: 6",8" | Proces: FE SEM | Verzending: EXW

LINDA IN5-HI

• Fabrikant: LINDA

Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH FE-3

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• Fabrikant: RAYTEX

Wafelgrootte: 8 " | Proces: RANDSCAN | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

HSEB AXIOTRON 300

• Fabrikant: HSEB

Verzending: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: METAAL THK METING | Verzending: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

JEOL JWS-7515

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7515

Details: Wafer inspectie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JWS-7515 Wafer-inspectie

2006 HITACHI IS2700E

• Fabrikant: Hitachi
• Model: IS-2700SE

Wafelgrootte: 12" | Details: Inspectie met elektronenbundel | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: HITACHI IS2700SE E-straalinspectie

2006 Micro-Vu Vertex 420

• Fabrikant: Micro-Vu

Wafelgrootte: N/A | Verzending: EXW