Halfgeleiders » Testen en meten » Zuid-Korea

Zoeken Op Fabrikant

Zoeken Op Provincie

Building Filters

Gerelateerde Evenementen

Nu Live

Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

door AllSurplus

Online
Eindigt Sep 30th, 0:00 CDT
Evenement bekijken
36

Gebruikte Testen En Meten in Zuid-Korea

  • 2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    • Fabrikant: Nikon
    • Model: Optiphot 300

    Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2012 KOH YOUNG, KY-7100, 3D

    2012 KOH YOUNG, KY-7100, 3D automatische optische inspectiemachine

    • Fabrikant: Koh Young
    • Model: KY7100

    Serienr.: AOI-S001 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: 3D automatische optische inspectiemachine | Apparatuur: 3D automatische optische inspectiemachine | Beschrijving: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2010 AIT, AVIS-5000N, LED waferinspectiesysteem

    2010 AIT, AVIS-5000N, LED waferinspectiesysteem

    • Fabrikant: AIT

    Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: LED wafer inspectiesysteem | Apparatuur: LED wafer inspectiesysteem | Beschrijving: Wafer 2~6"

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

    1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

    • Fabrikant: Plasmos

    Serienr.: 5094.06.94 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: ELLIPSOMETER | Apparatuur: ELLIPSOMETER | Beschrijving: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrofysica: AF-750 Microscoop Autofocussysteem

    Suwon, Zuid-Korea
  • MKS, P99A-28229, Drukregelaar

    MKS, P99A-28229, Drukregelaar

    • Fabrikant: MKS

    Serienr.: 10XX09 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Drukregelaar | Apparatuur: Drukregelaar | Beschrijving: Gas N2, bereik 1000SCCM, 1000Torr

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    • Fabrikant: Nikon
    • Model: Optiphot 300

    Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1996 Nanometrics Nanospec8000

    1996 Nanometrics Nanospec8000

    • Fabrikant: Nanometrics
    • Model: Nanospec

    Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2011 HMI eScan 400

    2011 HMI eScan 400

    • Fabrikant: HMI
    • Model: Escan 400

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Inspectie van gebreken aan E-balken | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2007 KOCUSAI VR120_SD

    2007 KOCUSAI VR120_SD

    • Fabrikant: KOCUSAI

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Weerstandstestsysteem | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2004 KLA VIPER 2430

    2004 KLA VIPER 2430

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: Viper 2430

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2004 KLA Viper 2435

    2004 KLA Viper 2435

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: Viper 2435

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2004 KLA Viper 2435XP

    2004 KLA Viper 2435XP

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: Viper 2435

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2005 RUDOLPH MP-300

    2005 RUDOLPH MP-300

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: MP 300

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2009 RUDOLPH MP300

    2009 RUDOLPH MP300

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: MP 300

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: Filmdikte meten | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 1997 KLA AIT

    1997 KLA AIT

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: AIT

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
123