Gebruikte Testen En Meten

ALESSI INDUSTRIES REL-4100A Analytical Probe Station w/Mitutoyo Microscope

• Fabrikant: Alessi
• Model: REL-4100

Mpn: REL-4100A | Land/regio van vervaardiging: Verenigde Staten | Type apparatuur: Sondestation

2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

• Fabrikant: Nikon
• Model: Optiphot 300

Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2012 KOH YOUNG, KY-7100, 3D automatische optische inspectiemachine

• Fabrikant: Koh Young
• Model: KY7100

Serienr.: AOI-S001 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: 3D automatische optische inspectiemachine | Apparatuur: 3D automatische optische inspectiemachine | Beschrijving: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

2010 AIT, AVIS-5000N, LED waferinspectiesysteem

• Fabrikant: AIT

Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: LED wafer inspectiesysteem | Apparatuur: LED wafer inspectiesysteem | Beschrijving: Wafer 2~6"

1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

• Fabrikant: Plasmos

Serienr.: 5094.06.94 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: ELLIPSOMETER | Apparatuur: ELLIPSOMETER | Beschrijving: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrofysica: AF-750 Microscoop Autofocussysteem

MKS, P99A-28229, Drukregelaar

• Fabrikant: MKS

Serienr.: 10XX09 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Drukregelaar | Apparatuur: Drukregelaar | Beschrijving: Gas N2, bereik 1000SCCM, 1000Torr

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

• Fabrikant: Nikon
• Model: Optiphot 300

Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Fabrikant: Nanometrics
• Model: Nanospec

Proces: MET | Verzending: EXW

2011 HMI eScan 400

• Fabrikant: HMI
• Model: Escan 400

Wafelgrootte: 12" | Proces: Inspectie van gebreken aan E-balken | Verzending: EXW

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Fabrikant: KOCUSAI

Wafelgrootte: 12" | Proces: Weerstandstestsysteem | Verzending: EXW

2005 RUDOLPH MP-300

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP 300

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2009 RUDOLPH MP300

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP 300

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Filmdikte meten | Verzending: EXW

1997 KLA AIT

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: AIT

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Fabrikant: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Fabrikant: Rudolph
• Model: AXI

Wafelgrootte: 12" | Proces: Macro-inspectie | Verzending: EXW