Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics
• Model: CALIPERMOSAIC

Wafelgrootte: 12" | Proces: Overlay | Verzending: EXW`

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW`

RODOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW`

J.A Woollam VUV-VASE

• gebruikte

• Fabrikant: J.A Woollam

Wafelgrootte: 12" | Proces: Ellipsometer | Verzending: EXW`

2001 HITACHI S4700-I

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S 4700

Wafelgrootte: 12" | Proces: Scanning elektronenmicroscoop | Verzending: EXW

RUDOLPH S3000A

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12" | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Verzending: EXW

JEOL JWS-7500E

• gebruikte

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7500E

Wafelgrootte: 8 " | Proces: WAFER INSPECTIESYSTEEM | Verzending: EXW

LINDA IN5-HI

• gebruikte

• Fabrikant: LINDA

Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH FE-3

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• gebruikte

• Fabrikant: RAYTEX

Wafelgrootte: 8 " | Proces: RANDSCAN | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• gebruikte

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 8 | 3 wafelformaat: 8 " | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• gebruikte

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: Overlay | Verzending: EXW