Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Duitsland

Hitachi S3000H SEM Scanning Electron Microscope La

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-3000H

Objectnummer: AA00072011 | Objectnaam: Hitachi S3000H SEM Scanning Electron Microscope La | Verzending: 4-6 weken

Veeco Dektak 3 oppervlakteprofielmeter

• Fabrikant: Veeco - Sloan
• Model: Dektak

Objectnummer: AA00072255 | Objectnaam: Veeco Dektak 3 oppervlakteprofielmeter | Verzending: 4-6 weken

Heidenhain meetlat LS 406 ML 470 mm 262 181 50

• Fabrikant: Heidenhain

Inhoud: 1 stuk | Gewicht: 5000 g

Hitachi S4000 Microscoop (SEM) Scanning Electron M

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4000

Objectnummer: AA00072106 | Objectnaam: Hitachi S4000 Microscoop (SEM) Scanning Electron M | Verzending: 4-6 weken

2001 Leica INS 3000

• Fabrikant: Leica
• Model: INS 3000