J.A Woollam VUV-VASE
gebruikte
- Fabrikant: J.A Woollam
Wafelgrootte: 12" | Proces: Ellipsometer | Verzending: EXW`
Zuid-Korea
2001 HITACHI S4700-I
gebruikte
- Fabrikant: Hitachi
- Model: S 4700
Wafelgrootte: 12" | Proces: Scanning elektronenmicroscoop | Verzending: EXW
Zuid-Korea
RUDOLPH S3000A
gebruikte
- Fabrikant: Rudolph
- Model: S3000A
Wafelgrootte: 12" | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Verzending: EXW
Zuid-Korea
JEOL JWS-7500E
gebruikte
- Fabrikant: Jeol
- Model: JWS-7500E
Wafelgrootte: 8 " | Proces: WAFER INSPECTIESYSTEEM | Verzending: EXW
Zuid-Korea
Zuid-Korea
RUDOLPH FE-3
gebruikte
- Fabrikant: Rudolph
Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW
Zuid-Korea
Zuid-Korea
2010 Kobelco SBW-330
gebruikte
- Fabrikant: Kobelco
- Model: SBW-330
Details: Wafer testen en metrologie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: SBW-330 Testen en metrologie van wafers
Zuid-Korea
1997 LG SEMICON CLS-9002
gebruikte
- Fabrikant: LG SEMICON
Proces: 3e OPTISCHE INSPECTIE | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
JEOL JWS-7515
gebruikte
- Fabrikant: Jeol
- Model: JWS-7515
Details: Wafer insepctie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JWS-7515 Wafer-inspectie
Zuid-Korea
2010 RUDOLPH S3000A
gebruikte
- Fabrikant: Rudolph
- Model: S3000A
Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie
Zuid-Korea
Zuid-Korea
Zuid-Korea
Zuid-Korea
Zuid-Korea
Tip: Voer fabrikant, model of sleutelwoord in