Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

KLA-TENCOR P 12

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P-12

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

METROLOGY P2

• Fabrikant: METROLOGY

KLA P20H

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P20H

Wafelgrootte: 3

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI FB 2100

• Fabrikant: Hitachi
• Model: FB-2100

1996 BROOKS METARA 7200

• Fabrikant: Brooks

Wafelgrootte: 8 " | Proces: OVERAAN | Verzending: EXW

1991 KLA SFS7200

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: SFS7200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Metrologie | Verzending: EXW

RUDOLPH WV320

• Fabrikant: Rudolph
• Model: WV320

Wafelgrootte: 12" | Proces: Macro-inspectie | Verzending: EXW`

2005 VISTEC LWM9000

• Fabrikant: Vistec

Wafelgrootte: 6" | Verzending: EXW

2010 HITACHI LS9000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: LS9000

Verzending: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 8 " | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS-4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: DEFECTE BEOORDELING SEM | Verzending: EXW