Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders) » Defectinspectie » Zuid-Korea

Zoeken Op Fabrikant

Zoeken Op Provincie

Building Filters

23

Gebruikte Defectinspectie in Zuid-Korea

  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: IS-3200SE

    Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2001 HITACHI S4700-I

    2001 HITACHI S4700-I

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-4700

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Scanning elektronenmicroscoop | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 1996 HITACHI S-4160

    1996 HITACHI S-4160

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-4160

    Wafelgrootte: 6",8" | Proces: FE SEM | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: IS-2700SE

    Wafelgrootte: 12" | Details: Inspectie met elektronenbundel | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: HITACHI IS2700SE E-straalinspectie

    Zuid-Korea
  • Hitachi S4700II

    Hitachi S4700II

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-4700

    Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • HITACHI S4700-II

    HITACHI S4700-II

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-4700

    Wafelgrootte: 12" | Proces: FESEM met Horriba EMAX EDX | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2003 HITACHI RS 4000

    2003 HITACHI RS 4000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: RS-4000

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: RS-4000

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
12

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.