Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

RUDOLPH FE-4D

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• gebruikte

• Fabrikant: Lasertec

Wafelgrootte: 8 " | Proces: ANALYSE- EN VISUALISATIESYSTEEM VOOR HET WAFEROPPERVLAK | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

Wafelgrootte: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• gebruikte

• Fabrikant: J.A.WOOLLAM

Wafelgrootte: 8 " | Proces: ELLIPSOMETER | Verzending: EXW

JEOL JWS-7515

• gebruikte

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7515

Details: Wafer inspectie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JWS-7515 Wafer-inspectie

2006 HITACHI IS2700E

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: IS2700SE

Wafelgrootte: 12" | Details: Inspectie met elektronenbundel | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: HITACHI IS2700SE E-straalinspectie

2005 RUDOLPH MP200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: METAAL THK METING | Verzending: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• gebruikte

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2006 Micro-Vu Vertex 420

• gebruikte

• Fabrikant: Micro-Vu

Wafelgrootte: N/A | Verzending: EXW

CAMECA EX300

• gebruikte

• Fabrikant: Cameca

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

Hitachi S4700II

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S 4700

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

2011 RUDOLPH S3000A

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie