Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders) » Zuid-Korea

Zoeken Op Fabrikant

Zoeken Op Provincie

Zoeken Op Type

Building Filters

133

Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

  • 2010 Kobelco SBW-330

    2010 Kobelco SBW-330

    • Fabrikant: Kobelco
    • Model: SBW-330

    Details: Wafer testen en metrologie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: SBW-330 Testen en metrologie van wafers

    Zuid-Korea
  • JEOL JWS-7500E

    JEOL JWS-7500E

    • Fabrikant: Jeol
    • Model: JWS-7500E

    Wafelgrootte: 8" | Proces: WAFER INSPECTIESYSTEEM | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2008 RAYTEX RXW-800

    2008 RAYTEX RXW-800

    • Fabrikant: RAYTEX

    Wafelgrootte: 8" | Proces: RANDSCAN | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • KLA TENCOR P-15

    KLA TENCOR P-15

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P-15

    Zuid-Korea
  • HSEB AXIOSPECT 300

    HSEB AXIOSPECT 300

    • Fabrikant: HSEB
    • Model: AXIOSPECT 300

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2000 RUDOLPH METAPULSE200

    2000 RUDOLPH METAPULSE200

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2014 Lasertec BGM300

    2014 Lasertec BGM300

    • Fabrikant: Lasertec

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2004 RUDOLPH METAPULSE200

    2004 RUDOLPH METAPULSE200

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2008 RUDOLPH NSK 105

    2008 RUDOLPH NSK 105

    • Fabrikant: Rudolph

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2008 Rudolph Metapulse Metapulse II

    2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2005 Rudolph Metapulse 200

    2005 Rudolph Metapulse 200

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: Metapulse 200

    Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
56789

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.