Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: OVERLAY | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS 4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: Masker- en waferinspectie | Verzending: EXW

1999 NEC NEC SL-473F

• gebruikte

• Fabrikant: NEC
• Model: SL-473F

Proces: SI WAFER MARKER | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2003 HITACHI RS4000

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS 4000

Wafelgrootte: 12" | Proces: Defecten nakijken Sem | Verzending: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• gebruikte

• Fabrikant: Thermo Fisher Scientific
• Model: ECO 1000

Proces: FTIR-SYSTEEM | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• gebruikte

• Fabrikant: JORDANVALLEY

Wafelgrootte: 12"

RUDOLPH Meta Pulse

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• gebruikte

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 8 | 3 wafelformaat: 8 " | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• gebruikte

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: Overlay | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: LAAGDIKTEMETING | Verzending: EXW