Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

2009 HITACHI RS4000T

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi
• Model: RS 4000

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• gebruikte

• Fabrikant: LASER&PHYSICS

Proces: Masker Testmachine | Wafelgrootte: N/A | Verzending: EXW

2002 MDC SIGNATION

• gebruikte

• Fabrikant: MDC

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

2000 KLA UV-1080

• gebruikte

• Fabrikant: KLA-Tencor

Wafelgrootte: 6", 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• gebruikte

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 REV.2 | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• gebruikte

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 | Verzending: EXW

METROLOGY Q230

• gebruikte

• Fabrikant: METROLOGY

Wafelgrootte: 8 "

HSEB AXIOSPECT 300

• gebruikte

• Fabrikant: HSEB
• Model: AXIOSPECT 300

Verzending: EXW

METROLOGY P2

• gebruikte

• Fabrikant: METROLOGY

KLA P20H

• gebruikte

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P20H

Wafelgrootte: 3

2014 Lasertec BGM300

• gebruikte

• Fabrikant: Lasertec

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

AMAT SEMVision

• gebruikte

• Fabrikant: Amat
• Model: Semvision

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• gebruikte

• Fabrikant: Rudolph

Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• gebruikte

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

HITACHI FB 2100

• gebruikte

• Fabrikant: Hitachi