Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

• Fabrikant: KLA-Tencor

Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um

KLA TENCOR, P-10, oppervlakteprofielmeter (Windows DOS)

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P-10

Serienr.: 03970318 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielmeter (Windows DOS) | Apparatuur: Oppervlakteprofielmeter | Beschrijving: Windows DOS

2000 KLA 2139

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: 2139

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Fabrikant: MDC

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabrikant: KLA-Tencor

Wafelgrootte: 6", 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Fabrikant: LASER&PHYSICS

Proces: Masker Testmachine | Wafelgrootte: N/A | Verzending: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Fabrikant: Hitachi
• Model: HD-2300A

Wafelgrootte: N/A | Proces: Scanning transmissie elektronenmicroscoop (STEM) | Verzending: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: NB5000

Wafelgrootte: N/A | Proces: FIB Sem | Verzending: EXW

HITACHI S5500

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5500

Wafelgrootte: N/A | Proces: FE Sem | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 REV.2 | Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

METROLOGY Q230

• Fabrikant: METROLOGY

Wafelgrootte: 8 "

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

AMAT SEMVision

• Fabrikant: Amat
• Model: Semvision

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW