Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders) » KLA-Tencor » afs-3220 » Zuid-Korea

Zoeken Op Provincie

Building Filters

5

Gebruikte KLA-Tencor afs-3220 Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

  • 2021 KLA, AFS-3220, Vlakheidsmeting

    2021 KLA, AFS-3220, Vlakheidsmeting

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Serienr.: AMS101 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Serienr.: AMS069 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2003 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    2003 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2005 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    2005 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Serienr.: AMS101 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um

    Suwon, Zuid-Korea