Gebruikte halfgeleider

2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

• Fabrikant: Nikon
• Model: Optiphot 300

Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

2012 KOH YOUNG, KY-7100, 3D automatische optische inspectiemachine

• Fabrikant: Koh Young
• Model: KY7100

Serienr.: AOI-S001 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: 3D automatische optische inspectiemachine | Apparatuur: 3D automatische optische inspectiemachine | Beschrijving: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

2007 KOCUSAI VR120_SD

• Fabrikant: KOCUSAI

Wafelgrootte: 12" | Proces: Weerstandstestsysteem | Verzending: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Fabrikant: Nanometrics
• Model: Nanospec

Proces: MET | Verzending: EXW

2011 HMI eScan 400

• Fabrikant: HMI
• Model: Escan 400

Wafelgrootte: 12" | Proces: Inspectie van gebreken aan E-balken | Verzending: EXW

1997 KLA AIT

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: AIT

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

2004 KLA VIPER 2430

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: Viper 2430

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2004 KLA Viper 2435XP

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: Viper 2435

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2005 RUDOLPH MP-300

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP 300

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2004 KLA Viper 2435

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: Viper 2435

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

1997 KLA AIT

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: AIT

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

LEICA INM300 Wafer Inspection

• Fabrikant: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• Fabrikant: Rudolph
• Model: AXI

Wafelgrootte: 12" | Proces: Macro-inspectie | Verzending: EXW

NIKON AMI-3500

• Fabrikant: Nikon
• Model: AMI-3500

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP 300

Verzending: EXW