Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW`

RODOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW`

J.A Woollam VUV-VASE

• Fabrikant: J.A Woollam

Wafelgrootte: 12" | Proces: Ellipsometer | Verzending: EXW`

2001 HITACHI S4700-I

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4700

Wafelgrootte: 12" | Proces: Scanning elektronenmicroscoop | Verzending: EXW

RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12" | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Verzending: EXW

JEOL JWS-7500E

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7500E

Wafelgrootte: 8 " | Proces: WAFER INSPECTIESYSTEEM | Verzending: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4160

Wafelgrootte: 6",8" | Proces: FE SEM | Verzending: EXW

LINDA IN5-HI

• Fabrikant: LINDA

Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH FE-3

• Fabrikant: Rudolph
• Model: FE-3

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• Fabrikant: RAYTEX

Wafelgrootte: 8 " | Proces: RANDSCAN | Verzending: EXW

HSEB AXIOTRON 300

• Fabrikant: HSEB

Verzending: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Fabrikant: Kobelco
• Model: SBW-330

Details: Wafer testen en metrologie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: SBW-330 Testen en metrologie van wafers

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Fabrikant: LG SEMICON

Proces: 3e OPTISCHE INSPECTIE | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

JEOL JWS-7515

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7515

Details: Wafer insepctie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JWS-7515 Wafer-inspectie

2005 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200