Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

2002 MDC SIGNATION

• Fabrikant: MDC

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabrikant: KLA-Tencor

Wafelgrootte: 6", 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 REV.2 | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 | Verzending: EXW

METROLOGY Q230

• Fabrikant: METROLOGY

Wafelgrootte: 8"

METROLOGY P2

• Fabrikant: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

KLA P20H

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P20H

Wafelgrootte: 3

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI FB 2100

• Fabrikant: Hitachi
• Model: FB-2100

AMAT SEMVision

• Fabrikant: Amat
• Model: Semvision

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000