Halfgeleiders » Testen en meten » Zuid-Korea

Zoeken Op Fabrikant

Zoeken Op Provincie

Building Filters

Gerelateerde Evenementen

Nu Live

PCB Lamination Production Line

door AllSurplus

Online
Eindigt Sep 10th, 5:00 CDT
Evenement bekijken
39

Gebruikte Testen En Meten in Zuid-Korea

  • 2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    2003 Nikon, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    • gebruikte

    • Fabrikant: Nikon
    • Model: Optiphot 300

    Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2012 KOH YOUNG, KY-7100, 3D

    2012 KOH YOUNG, KY-7100, 3D automatische optische inspectiemachine

    • gebruikte

    • Fabrikant: Koh Young
    • Model: KY7100

    Serienr.: AOI-S001 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: 3D automatische optische inspectiemachine | Apparatuur: 3D automatische optische inspectiemachine | Beschrijving: 208VAC, 1Phase, 50/60Hz

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2010 AIT, AVIS-5000N, LED waferinspectiesysteem

    2010 AIT, AVIS-5000N, LED waferinspectiesysteem

    • gebruikte

    • Fabrikant: AIT

    Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: LED wafer inspectiesysteem | Apparatuur: LED wafer inspectiesysteem | Beschrijving: Wafer 2~6"

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

    1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER

    • gebruikte

    • Fabrikant: Plasmos

    Serienr.: 5094.06.94 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: ELLIPSOMETER | Apparatuur: ELLIPSOMETER | Beschrijving: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrofysica: AF-750 Microscoop Autofocussysteem

    Suwon, Zuid-Korea
  • MKS, P99A-28229, Drukregelaar

    MKS, P99A-28229, Drukregelaar

    • gebruikte

    • Fabrikant: MKS

    Serienr.: 10XX09 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Drukregelaar | Apparatuur: Drukregelaar | Beschrijving: Gas N2, bereik 1000SCCM, 1000Torr

    Suwon, Zuid-Korea
  • 2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    2003 NIKON, OPTIPHOT-300D, Inspectiemicroscoop

    • gebruikte

    • Fabrikant: Nikon
    • Model: Optiphot 300

    Serienr.: 625331 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Inspectiemicroscoop | Apparatuur: Inspectiemicroscoop | Beschrijving: 14x10 podium, wafer 12", 100-120V, 3A, 50/60Hz

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1996 Nanometrics Nanospec8000

    1996 Nanometrics Nanospec8000

    • gebruikte

    • Fabrikant: Nanometrics
    • Model: Nanospec

    Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2011 HMI eScan 400

    2011 HMI eScan 400

    • gebruikte

    • Fabrikant: HMI
    • Model: Escan 400

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Inspectie van gebreken aan E-balken | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2007 KOCUSAI VR120_SD

    2007 KOCUSAI VR120_SD

    • gebruikte

    • Fabrikant: KOCUSAI

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Weerstandstestsysteem | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2004 KLA VIPER 2430

    2004 KLA VIPER 2430

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: Viper 2430

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2004 KLA Viper 2435

    2004 KLA Viper 2435

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: Viper 2435

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2004 KLA Viper 2435XP

    2004 KLA Viper 2435XP

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: Viper 2435

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2005 RUDOLPH MP-300

    2005 RUDOLPH MP-300

    • gebruikte

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: MP 300

    Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 2009 RUDOLPH MP300

    2009 RUDOLPH MP300

    • gebruikte

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: MP 300

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: Filmdikte meten | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 1997 KLA AIT

    1997 KLA AIT

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: AIT

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
123

Overzicht

Halfgeleider inspectie- en testapparatuur zijn gespecialiseerde machines die worden gebruikt om de kwaliteit en functionaliteit van halfgeleiderapparaten te waarborgen. Deze machines voeren verschillende tests en inspecties uit, waaronder visuele inspectie, elektrische tests en defectanalyse, om problemen in het halfgeleiderproductieproces te identificeren en aan te pakken. Ze zijn cruciaal voor het handhaven van de hoge normen die vereist zijn in de halfgeleiderindustrie.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider inspectie- en testapparatuur?

Overweeg de compatibiliteit van de apparatuur met uw bestaande systemen, de soorten tests die het uitvoert, de nauwkeurigheid en de ondersteunings- en serviceopties van de fabrikant. Beoordeel ook de algehele staat en eventuele meegeleverde software of accessoires.

Hoe kan ik ervoor zorgen dat halfgeleider inspectie- en testapparatuur veilig wordt verzonden?

Gebruik een gespecialiseerde transportdienst met ervaring in het omgaan met delicate en waardevolle apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur tijdens het transport goed is verpakt, vastgezet en verzekerd.

Welke onderhoud is nodig voor halfgeleider inspectie- en testapparatuur?

Regulier onderhoud omvat reiniging, kalibratie en software-updates. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor specifieke onderhoudsintervallen en procedures om optimale prestaties en duurzaamheid van de apparatuur te garanderen.