Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders)

Zoeken Op Fabrikant

Zoeken Op Land

Building Filters

Gerelateerde Evenementen

Nu Live

Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

door AllSurplus

Online
Eindigt Sep 30th, 0:00 CDT
Evenement bekijken
8

Gebruikte profilering

  • KLA TENCOR, P-15, lange scanprofielzoeker

    KLA TENCOR, P-15, lange scanprofielzoeker

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P-15

    Serienr.: 905001693 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Long Scan Profiler | Apparatuur: Long Scan Profiler | Beschrijving: N/A

    Suwon, Zuid-Korea
  • VEECO, DEKTAK6M, oppervlakteprofielzoeker

    VEECO, DEKTAK6M, oppervlakteprofielzoeker

    • gebruikte

    • Fabrikant: Veeco - Sloan
    • Model: Dektak

    Serienr.: 34542 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakte Profiler | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Scanlengte 50㎛~30mm, wafeldiameter 150mm

    Suwon, Zuid-Korea
  • KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofielzoeker (Windows

    KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofielzoeker (Windows NT)

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P-15

    Serienr.: 0704120887 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielen (Windows NT) | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Windows NT

    Suwon, Zuid-Korea
  • KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofiler (Windows

    KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofiler (Windows XP Professional)

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P-15

    Serienr.: 0803105587 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielen (Windows XP Professional) | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Windows XP Professional

    Suwon, Zuid-Korea
  • 1996 KLA TENCOR P-2

    1996 KLA TENCOR P-2

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Wafelgrootte: 6",8" | Levering: EXW

    Zuid-Korea
  • METROLOGY P2

    METROLOGY P2

    • gebruikte

    • Fabrikant: METROLOGY

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • KLA P20H

    KLA P20H

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P20H

    Wafelgrootte: 3

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • KLA-TENCOR P 12

    KLA-TENCOR P 12

    • gebruikte

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P-12

    Gyeonggi, Zuid-Korea

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.