Halfgeleiders » Metrologie / Inspectie (halfgeleiders) » Zuid-Korea

Zoeken Op Fabrikant

Zoeken Op Provincie

Zoeken Op Type

Building Filters

133

Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

  • KLA P20H

    KLA P20H

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P20H

    Wafelgrootte: 3

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-5000

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-5000

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-5000

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • HITACHI FB 2100

    HITACHI FB 2100

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: FB-2100

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-5000

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: S-5000

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • KLA-TENCOR P 12

    KLA-TENCOR P 12

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: P-12

    Gyeonggi, Zuid-Korea
  • 1996 BROOKS METARA 7200

    1996 BROOKS METARA 7200

    • Fabrikant: Brooks

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: OVERAAN | Verzending: EXW

    Cheonan-si, Zuid-Korea
  • 1990 KLA SFS7200

    1990 KLA SFS7200

    • Fabrikant: KLA-Tencor
    • Model: SFS7200

    Wafelgrootte: 8 " | Proces: Metrologie | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2013 HITACHI RS6000

    2013 HITACHI RS6000

    • Fabrikant: Hitachi
    • Model: RS-6000

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 1991 NIKON 3

    1991 NIKON 3

    • Fabrikant: Nikon

    Wafelgrootte: 5" | Proces: OPTI STATION

    Zuid-Korea
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Fabrikant: Rudolph
    • Model: S3000A

    Wafelgrootte: 12" | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • Fabrikant: Rudolph

    Wafelgrootte: 8 " | Verzending: EXW

    Zuid-Korea
  • 2006 KLA CI T1X0

    2006 KLA CI T1X0

    • Fabrikant: KLA-Tencor

    Verzending: EXW

    Zuid-Korea
34567

Overzicht

Halfgeleider metriek omvat de meting en analyse van halfgeleider wafers en apparaten. Deze categorie omvat gereedschappen en apparatuur die worden gebruikt om de precisie en nauwkeurigheid van halfgeleider productieprocessen te waarborgen. Deze instrumenten zijn essentieel voor kwaliteitscontrole, helpen bij het detecteren van defecten en zorgen ervoor dat apparaten voldoen aan strenge industriestandaarden.

FAQ

Welke factoren moet ik overwegen bij het kopen van halfgeleider metriek apparatuur?

Overweeg de meetnauwkeurigheid, resolutie en compatibiliteit van de apparatuur met uw specifieke halfgeleiderprocessen. Evalueer de ondersteuningsdiensten van de leverancier en de mate waarin de apparatuur kan worden geïntegreerd in uw bestaande systemen.

Hoe kan ik zorgen voor een veilige verzending van halfgeleider metriek apparatuur?

Gebruik een gespecialiseerde verzendservice met ervaring in het omgaan met gevoelige en zeer nauwkeurige apparatuur. Zorg ervoor dat de apparatuur goed is verpakt met voldoende demping en instructies voor het hanteren.

Wat is het onderhoudsschema voor halfgeleider metriek apparatuur?

Regelmatige kalibratie en inspectie zijn essentieel. Volg de richtlijnen van de fabrikant voor preventief onderhoud, inclusief het reinigen van optische componenten en het controleren op software-updates. Houd een logboek bij van alle onderhoudsactiviteiten.