Building Filters
2008 Bekijk ENG, Benchmark250, 3D meetmicroscoop
- Fabrikant: View Eng
Serienr.: B25008111255 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: 3D meetmicroscoop | Apparatuur: 3D meetmicroscoop | Beschrijving: XYZ Reis 300x150x200mm
Suwon, Zuid-Korea
NIKON, MM-40, Meetmicroscoop
- Fabrikant: Nikon
- Model: MM40
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Meetmicroscoop | Apparatuur: Meetmicroscoop | Beschrijving: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x lens
Suwon, Zuid-Korea
NIKON, ECLIPSE L200, elektronenmicroscoop
- Fabrikant: Nikon
- Model: Eclipse L200
Serienr.: 610566 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Elektronenmicroscoop | Apparatuur: Elektronenmicroscoop
Suwon, Zuid-Korea
OLYMPUS, STM6-LM, Meetmicroscoop
- Fabrikant: Olympus
- Model: STM6-LM
Serienr.: 5J16677 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Meetmicroscoop | Apparatuur: Meetmicroscoop | Beschrijving: Stadium 250x150㎛, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x Lens
Suwon, Zuid-Korea
OLYMPUS, SZ61TR, stereomicroscoop
- Fabrikant: Olympus
- Model: SZ61TR
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 2 | Uitrustingsdetail: Stereomicroscoop | Apparatuur: Stereomicroscoop
Suwon, Zuid-Korea
2004 OLYMPUS, CKX41SF, omgekeerde fasecontrastmicroscoop
- Fabrikant: Olympus
- Model: CKX41SF
Serienr.: 4L17148 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: omgekeerde fasecontrastmicroscoop | Apparatuur: omgekeerde fasecontrastmicroscoop | Beschrijving: 220-240V, 0.85/0.45A, 50/60Hz
Suwon, Zuid-Korea
JEOL JSM-6700F
- Fabrikant: Jeol
- Model: JSM
Details: FE SEM | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JSM-6700F FE SEM
Zuid-Korea
1999 JEOL JSM-5600
- Fabrikant: Jeol
- Model: JSM
Details: CD SEM | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JSM-5600 CD SEM
Zuid-Korea
Zuid-Korea
Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabrikant: Hitachi
- Model: S-3000H
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: SEM (scanning elektronenmicroscoop) | Apparatuur: SEM (scanning elektronenmicroscoop)
Suwon, Zuid-Korea
1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER
- Fabrikant: Plasmos
Serienr.: 5094.06.94 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: ELLIPSOMETER | Apparatuur: ELLIPSOMETER | Beschrijving: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrofysica: AF-750 Microscoop Autofocussysteem
Suwon, Zuid-Korea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabrikant: Leica
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabrikant: Leica
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabrikant: Leica
- Model: KENSINGTON 300901
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabrikant: Leica
- Model: KENSINGTON 300901
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea