Gebruikte Ondersteunende Apparatuur (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Fabrikant: Verteq
• Model: SUPERCLEAN 1600

2005 AXCELIS ES3

• Fabrikant: Axcelis
• Model: ES3

Wafelgrootte: 12"

2008 Espec SCO-122B-L

• Fabrikant: Espec
• Model: SCO-122B-L

Uitlaatgrootte: 1400*2200*2000 mm | Inlaatgrootte: 800*780*700 mm | Tempbereik: 50~500 ℃ | Spanning: 200V, 3 FASEN, 50/60HZ | Gevestigd: Etechsolution magazijn B-2

2003 CHARM ENG CVO-1200

• Fabrikant: CHARM ENG

Uitlaatgrootte: 1900*1760*1370 mm | Spanning: 208V/21KVA/50-60HZ | Gevestigd: Etechsolution magazijn B-4

MPD MSP-2300XPI

• Fabrikant: MPD

Wafelgrootte: 12" | Details: Depositie van wafers | Verzending: EXW

1992 DISCO DFG-82IF

• Fabrikant: Disco
• Model: DFG-82IF8

Proces: Roterende vlakslijpmachine

TEL 303I

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL
• Model: 303I

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

TEL INDY PLS

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Fabrikant: Nicolet
• Model: MAGNA 560 FT-IR

Verzending: EXW

SEMITOOL WST305M

• Fabrikant: Semitool
• Model: WST305M

Proces: Cu PLTNG | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

HP 4145B

• Fabrikant: HP
• Model: 4145B

Proces: HALFGELEIDERPARAMETER | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW