Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

2011 RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

FEI FEM2010F

• Fabrikant: FEI
• Model: FEM2010F

Details: Dubbele straal | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: FEI FEM2010F Dubbele bundel

2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

• Fabrikant: Nanometrics
• Model: CALIPERMOSAIC

Wafelgrootte: 12" | Proces: Overlay | Verzending: EXW`

2013 RODOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW`

RODOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting | Verzending: EXW`

J.A Woollam VUV-VASE

• Fabrikant: J.A Woollam

Wafelgrootte: 12" | Proces: Ellipsometer | Verzending: EXW`

2001 HITACHI S4700-I

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4700

Wafelgrootte: 12" | Proces: Scanning elektronenmicroscoop | Verzending: EXW

RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12" | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Verzending: EXW

JEOL JWS-7500E

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7500E

Wafelgrootte: 8 " | Proces: WAFER INSPECTIESYSTEEM | Verzending: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-4160

Wafelgrootte: 6",8" | Proces: FE SEM | Verzending: EXW

LINDA IN5-HI

• Fabrikant: LINDA

Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH FE-3

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• Fabrikant: RAYTEX

Wafelgrootte: 8 " | Proces: RANDSCAN | Verzending: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200