Gebruikte Ondersteunende Apparatuur (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

2010 TEL INDY PLS

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

PROBER MP2000

• Fabrikant: PROBER

VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Fabrikant: Verteq
• Model: SUPERCLEAN 1600

2005 AXCELIS ES3

• Fabrikant: Axcelis
• Model: ES3

Wafelgrootte: 12"

MPD MSP-2300XPI

• Fabrikant: MPD

Wafelgrootte: 12" | Details: Depositie van wafers | Verzending: EXW

1992 DISCO DFG-82IF

• Fabrikant: Disco
• Model: DFG-82IF8

Proces: Roterende vlakslijpmachine

TEL 303I

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL
• Model: 303I

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

TEL INDY PLS

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• Fabrikant: Nicolet
• Model: MAGNA 560 FT-IR

Verzending: EXW

SEMITOOL WST305M

• Fabrikant: Semitool
• Model: WST305M

Proces: Cu PLTNG | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

HP 4145B

• Fabrikant: HP
• Model: 4145B

Proces: HALFGELEIDERPARAMETER | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW