Seoul, Zuid-Korea
2003 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting
- Fabrikant: KLA-Tencor
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um
Suwon, Zuid-Korea
2005 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting
- Fabrikant: KLA-Tencor
Serienr.: AMS101 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um
Suwon, Zuid-Korea
2003 KLA, SP3, DEELTJESTELLER
- Fabrikant: KLA-Tencor
- Model: SP3
Serienr.: 45120310476 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: DEELTJESTELLER | Apparatuur: DEELTJESTELLER | Beschrijving: Wafer 450 mm
Suwon, Zuid-Korea
2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step
- Fabrikant: Veeco - Sloan
- Model: Dektak
Serienr.: 24278 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Alpha stap | Apparatuur: Alpha stap | Beschrijving: N/A
Suwon, Zuid-Korea
KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofielzoeker (Windows NT)
- Fabrikant: KLA-Tencor
- Model: P-15
Serienr.: 0704120887 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielen (Windows NT) | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Windows NT
Suwon, Zuid-Korea
2021 KLA, AFS-3220, Vlakheidsmeting
- Fabrikant: KLA-Tencor
Serienr.: AMS101 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um
Suwon, Zuid-Korea
Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabrikant: Hitachi
- Model: S-3000H
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: SEM (scanning elektronenmicroscoop) | Apparatuur: SEM (scanning elektronenmicroscoop)
Suwon, Zuid-Korea
1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting
- Fabrikant: KLA-Tencor
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um
Suwon, Zuid-Korea
KLA TENCOR, P-10, oppervlakteprofielmeter (Windows DOS)
- Fabrikant: KLA-Tencor
- Model: P-10
Serienr.: 03970318 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielmeter (Windows DOS) | Apparatuur: Oppervlakteprofielmeter | Beschrijving: Windows DOS
Suwon, Zuid-Korea
1999 KLA, AFS-3220, vlakheidsmeting
- Fabrikant: KLA-Tencor
Serienr.: AMS069 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Vlakheid meten | Apparatuur: Vlakheid meten | Beschrijving: Wafer 300 mm, scandikte: nauwkeurigheid 0,25um
Suwon, Zuid-Korea
2013 KLA, PHXDF5.0, Wafersight3
- Fabrikant: KLA-Tencor
Serienr.: 48130711333 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Wafersight3 | Apparatuur: Wafersight3 | Beschrijving: Wafer 450 mm
Suwon, Zuid-Korea
VEECO, DEKTAK6M, oppervlakteprofielzoeker
- Fabrikant: Veeco - Sloan
- Model: Dektak
Serienr.: 34542 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakte Profiler | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Scanlengte 50㎛~30mm, wafeldiameter 150mm
Suwon, Zuid-Korea
KLA TENCOR, P-15, lange scanprofielzoeker
- Fabrikant: KLA-Tencor
- Model: P-15
Serienr.: 905001693 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Long Scan Profiler | Apparatuur: Long Scan Profiler | Beschrijving: N/A
Suwon, Zuid-Korea
KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofiler (Windows XP Professional)
- Fabrikant: KLA-Tencor
- Model: P-15
Serienr.: 0803105587 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielen (Windows XP Professional) | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Windows XP Professional
Suwon, Zuid-Korea
Tip: Voer fabrikant, model of sleutelwoord in