Building Filters
1999 JEOL JSM-5600
- Fabrikant: Jeol
- Model: JSM
Details: CD SEM | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JSM-5600 CD SEM
Zuid-Korea
Hitachi, S-3000H, SEM (Scanning Electron Microscope)
- Fabrikant: Hitachi
- Model: S-3000H
Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: SEM (Scanning Electron Microscope) | Apparatuur: SEM (scanning elektronenmicroscoop)
Suwon, Zuid-Korea
1999 PLASMOS, SD2002, ELLIPSOMETER
- Fabrikant: Plasmos
Serienr.: 5094.06.94 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: ELLIPSOMETER | Apparatuur: ELLIPSOMETER | Beschrijving: Wafer 300mm | Videomonitor: 9M200A | Elektrofysica: AF-750 Microscoop Autofocussysteem
Suwon, Zuid-Korea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabrikant: Leica
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabrikant: Leica
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabrikant: Leica
- Model: KENSINGTON 300901
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabrikant: Leica
- Model: KENSINGTON 300901
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabrikant: Leica
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabrikant: Leica
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabrikant: Leica
- Model: KENSINGTON 300901
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabrikant: Leica
- Model: KENSINGTON 300901
Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW
Zuid-Korea