Gebruikte metrologie

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabrikant: Rudolph

Verzending: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabrikant: HSEB
• Model: AXIOSPECT 300

Verzending: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Fabrikant: Hitachi
• Model: HD-2300A

Wafelgrootte: N/A | Proces: Scanning transmissie elektronenmicroscoop (STEM) | Verzending: EXW

KLA TENCOR P-15

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P-15

2011 HITACHI NB-5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: NB5000

Wafelgrootte: N/A | Proces: FIB Sem | Verzending: EXW

HITACHI S5500

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5500

Wafelgrootte: N/A | Proces: FE Sem | Verzending: EXW

1996 Nanometrics Nanospec8000

• Fabrikant: Nanometrics
• Model: Nanospec

Proces: MET | Verzending: EXW

2011 HMI eScan 400

• Fabrikant: HMI
• Model: Escan 400

Wafelgrootte: 12" | Proces: Inspectie van gebreken aan E-balken | Verzending: EXW

1999 JEOL JSM-5600

• Fabrikant: Jeol
• Model: JSM

Details: CD SEM | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JSM-5600 CD SEM