Gebruikte metrologie

2003 KLA, SP3, DEELTJESTELLER

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: SP3

Serienr.: 45120310476 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: DEELTJESTELLER | Apparatuur: DEELTJESTELLER | Beschrijving: Wafer 450 mm

2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

• Fabrikant: Veeco - Sloan
• Model: Dektak

Serienr.: 24278 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Alpha stap | Apparatuur: Alpha stap | Beschrijving: N/A

KLA TENCOR, P-15, oppervlakteprofielzoeker (Windows NT)

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P-15

Serienr.: 0704120887 | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: Oppervlakteprofielen (Windows NT) | Apparatuur: Oppervlakte Profiler | Beschrijving: Windows NT

2010 Kobelco SBW-330

• Fabrikant: Kobelco
• Model: SBW-330

Details: Wafer testen en metrologie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: SBW-330 Testen en metrologie van wafers

1990 KLA SFS7200

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: SFS7200

Wafelgrootte: 8" | Proces: Metrologie | Verzending: EXW

1991 KLA SFS7200

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: SFS7200

Wafelgrootte: 8" | Proces: Metrologie | Verzending: EXW

METROLOGY Q230

• Fabrikant: METROLOGY

Wafelgrootte: 8"

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

AMAT SEMVision

• Fabrikant: Amat
• Model: Semvision

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

METROLOGY P2

• Fabrikant: METROLOGY

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 REV.2 | Verzending: EXW

KLA P20H

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P20H

Wafelgrootte: 3

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 | Verzending: EXW

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: S-5000