Gebruikte etc in Zuid-Korea

K&K, 6.0in, HEETBLAD

• gebruikte

• Fabrikant: K&K

Serienr.: N/A | Hoeveelheid: 1 | Uitrustingsdetail: HOTPLATE | Apparatuur: HOTPLATE | Beschrijving: 6 inch

TEL 303I

• gebruikte

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL
• Model: 303I

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

TEL FORMULA

• gebruikte

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL
• Model: Formula

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

TEL INDY PLS

• gebruikte

• Fabrikant: Tokyo Electron - TEL

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2008 EMTEC CVP-320

• gebruikte

• Fabrikant: EMTEC

Wafelgrootte: 12"

VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• gebruikte

• Fabrikant: Verteq
• Model: SUPERCLEAN 1600

MPD MSP-2300XPI

• gebruikte

• Fabrikant: MPD

Wafelgrootte: 12" | Details: Depositie van wafers | Verzending: EXW

2011 AXCELIS INTEGRA

• gebruikte

• Fabrikant: Axcelis
• Model: Integra

Wafelgrootte: 12" | Proces: ES plasma droogstripsysteem | Verzending: EXW`

1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR

• gebruikte

• Fabrikant: Nicolet
• Model: MAGNA 560 FT-IR

Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• gebruikte

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

HP 4145B

• gebruikte

• Fabrikant: HP
• Model: 4145B

Proces: HALFGELEIDERPARAMETER | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• gebruikte

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• gebruikte

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• gebruikte

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

KEITHLEY KEITHLEY 236

• gebruikte

• Fabrikant: Keithley
• Model: 236

Details: Bron meeteenheid | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: KEITHLEY 236 Bronmeeteenheid