Gebruikte Ondersteunende Apparatuur (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

WONIK IPS MAHA HP2

• Fabrikant: WONIK IPS

Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: WONIK IPS MAHA HP2

1998 SEMITOOL EO212PM

• Fabrikant: Semitool
• Model: EO212PM

Proces: Cu PLTNG | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

HYPERFLOW CENTURA WET

• Fabrikant: HYPERFLOW

Wafelgrootte: 6" | Proces: Wafer Carreier bootwasinstallatie | Verzending: EXW

DMS I-GEMINUS 6000

• Fabrikant: DMS
• Model: I-GEMINUS 6000

Wafelgrootte: 12" | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: DMS I-GEMINUS 6000

SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

• Fabrikant: SUNGJIN SEMITECH

Proces: Wafer-reiniger Auto | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• Fabrikant: Nicolet
• Model: MAGNA 410 FT-IR

Proces: Spectrometer | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Fabrikant: Verteq
• Model: SUPERCLEAN 1600

Proces: CENTRIFUGE DROGER | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabrikant: CARLZEISS

Proces: INSPECTIEMICROSCOOP | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Fabrikant: Leica

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabrikant: Leica
• Model: KENSINGTON 300901

Proces: Wafer inspectie microscoop | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7500E

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Wafer inspectiesysteem | Verzending: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabrikant: CARLZEISS

Proces: INSPECTIEMICROSCOOP | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

EXPEDIUS

Wafelgrootte: 12" | Proces: DUMMY CLN | Verzending: EXW

NIDEC IM 15

• Fabrikant: Nidec-Shimpo

Proces: Wafer inspectie | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW