Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders) in Zuid-Korea

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 8 | 3 wafelformaat: 8 " | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: LAAGDIKTEMETING | Verzending: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Fabrikant: Kobelco
• Model: SBW-330

Details: Wafer testen en metrologie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: SBW-330 Testen en metrologie van wafers

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Fabrikant: LG SEMICON

Proces: 3e OPTISCHE INSPECTIE | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

JEOL JWS-7515

• Fabrikant: Jeol
• Model: JWS-7515

Details: Wafer insepctie | Verzending: Verpakking en verzending is de verantwoordelijkheid van de koper | Opmerkingen: JEOL JWS-7515 Wafer-inspectie

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie

2010 RUDOLPH S3000S

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000S

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

RUDOLPH S3000S

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000S

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

RUDOLPH S3000S

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000S

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

2010 RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie