Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

2002 MDC SIGNATION

• Fabrikant: MDC

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

2000 KLA UV-1080

• Fabrikant: KLA-Tencor

Wafelgrootte: 6", 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 REV.2 | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW

METROLOGY Q230

• Fabrikant: METROLOGY

Wafelgrootte: 8 "

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabrikant: HSEB
• Model: AXIOSPECT 300

Verzending: EXW

METROLOGY P2

• Fabrikant: METROLOGY

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabrikant: Rudolph

Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

2014 Lasertec BGM300

• Fabrikant: Lasertec

Wafelgrootte: 12 | Verzending: EXW

AMAT SEMVision

• Fabrikant: Amat
• Model: Semvision

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

KLA P20H

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P20H

Wafelgrootte: 3

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: MET | Verzending: EXW