Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: Masker- en waferinspectie | Verzending: EXW

2012 RUDOLPH S3000A

• Fabrikant: Rudolph
• Model: S3000A

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Gefocusseerde Laser Ellipsometrie | Kamer: EXW

KLA_TENCOR P-12

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Wafelgrootte: 6",8" | Proces: DISK PROFIELER | Verzending: EXW

2010 BRUKER JVX6200

• Fabrikant: Bruker

Proces: Metro | Verzending: EXW

RUDOLPH FE-4D

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Focus Ellipsometer | Verzending: EXW

2008 LASERTEC BGM 300

• Fabrikant: Lasertec

Wafelgrootte: 8 " | Proces: ANALYSE- EN VISUALISATIESYSTEEM VOOR HET WAFEROPPERVLAK | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

Wafelgrootte: 8

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• Fabrikant: J.A.WOOLLAM

Wafelgrootte: 8 " | Proces: ELLIPSOMETER | Verzending: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Fabrikant: RODOLPH

Wafelgrootte: 8 | 3 wafelformaat: 8 " | Verzending: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• Fabrikant: Rudolph

Wafelgrootte: 12" | Proces: Filmdiktemeting

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: LAAGDIKTEMETING | Wafelgrootte: * | Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Proces: Overlay | Verzending: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: Metapulse 200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: LAAGDIKTEMETING | Verzending: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• Fabrikant: Rudolph
• Model: MP200