Gebruikte 2010 Park Systems, XE-150, AFM (Atomic Force Microscope) in Suwon, Gyeonggi, Zuid-Korea
Gebruikte
Doubleclick to zoom in
Contact the seller for
additional photos and information.
Specificaties
- Conditie
- gebruikte
- Jaar
- 2010
- Serienummer
- N/A
- Voorraadnummer
- 199180025
- Serienr.
- N/A
- Hoeveelheid
- 1
- Uitrustingsdetail
- AFM (Atomic Force Microscope)
- Apparatuur
- AFM (Atomic Force Microscope)
- Categorie
- Microscopen in Zuid-Korea
- Subcategorie
- Machines
- Subcategorie 2
- Optisch en testen
- Advertentie ID
- 98762114
Omschrijving
XY Scanbereik 100x100µm2, Z Scanbereik 12µm, Ruisniveau 0,05nm (max)
- BESCHRIJVING: XY Scanbereik 100x100µm2, Z Scanbereik 12µm, Ruisniveau 0,05nm (max)
- CONDITIE: Werken
Services offered by seller
Deze verkoper biedt reserveonderdelen aan