Gebruikte Metrologie / Inspectie (Halfgeleiders)

2000 KLA UV-1080

• Fabrikant: KLA-Tencor

Wafelgrootte: 6", 8" | Proces: MET | Verzending: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Fabrikant: LASER&PHYSICS

Proces: Masker Testmachine | Wafelgrootte: N/A | Verzending: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Fabrikant: Hitachi
• Model: HD-2300A

Wafelgrootte: N/A | Proces: Scanning transmissie elektronenmicroscoop (STEM) | Verzending: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Fabrikant: Hitachi
• Model: NB5000

Wafelgrootte: N/A | Proces: FIB Sem | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 REV.2 | Verzending: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabrikant: KLA_TENCOR

Proces: CI T1X0 | Verzending: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabrikant: Nanometrics

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

METROLOGY Q230

• Fabrikant: METROLOGY

Wafelgrootte: 8"

AMAT SEMVision

• Fabrikant: Amat
• Model: Semvision

Wafelgrootte: 12" | Verzending: EXW

METROLOGY P2

• Fabrikant: METROLOGY

KLA P20H

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P20H

Wafelgrootte: 3

HITACHI FB 2100

• Fabrikant: Hitachi
• Model: FB-2100

KLA-TENCOR P 12

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• Fabrikant: Brooks

Wafelgrootte: 8" | Proces: OVERAAN | Verzending: EXW

1990 KLA SFS7200

• Fabrikant: KLA-Tencor
• Model: SFS7200

Wafelgrootte: 8 " | Proces: Metrologie | Verzending: EXW